現代の集積回路 （IC） の設計とデバッグは非常に複雑であり、企業は問題を特定して解決するために大規模な設計・検証チームを編成する必要があります。 Altair® Silicon Debug Tools™ は、設計チームの複雑性を軽減し、あらゆるレベルのユーザーがIC設計を迅速にデバッグできるようにすることで、開発サイクルを大幅に短縮する、大容量かつ高性能なソリューションです。
アルテアのICデバッグ機能は、最新のシステムオンチップ（SoC）プラットフォームに対応する、システム、レジスタ転送レベル（RTL）、ゲートレベル、SPICEレベルの設計抽象化を例外的な範囲で処理し、半導体設計が製造段階に問題なく到達することを保証します。
アルテアのシリコンデバッグツールファミリーを使用して設計サイクルを短縮します。 柔軟性に優れたAltair® StarVision PRO™は、ミックスモード設計上の問題を迅速に特定し視覚化することで解決し、IC設計における知的財産（IP）のビルディングブロック統合をサポートします。 さらに、アルテアのデバッグ用ソフトウェアソリューションは、Altair® SpiceVision PRO™による効率的なSPICE解析、RTLvision PRO™によるデジタルレジスタ転送レベル（RTL）のデバッグ、Altair® GateVision PRO™によるゲートレベルデバッグ機能を提供します。
ドローン、スマートフォン、自律走行車、救命医療機器などには、詳細かつ信頼性の高い半導体設計が必要です。 Silicon Debug Toolsの強力かつ使いやすいワークフローにより、これらのSoCの複雑な管理が可能になります。このワークフローは、開発サイクルの初期段階で設計上の問題を検出および緩和し、コストのかかる設計および生産上の問題が下流工程で発生するのを防ぐため、初心者にもエキスパートにも役立ちます。
非標準の集積回路設計をより早く、より確信を持って生産に投入できます。 ツールのカスタマイズとワークフローの自動化により、エンジニアはカスタムチェックを定義して、最適化され、検証された信頼性の高い設計は、より早く製造段階に進めることができます。
